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林頻熱老化試驗(yàn)箱為你分析試驗(yàn)循環(huán)失敗的可能
發(fā)布時(shí)間:2021-01-08 10:45作者:熱老化試驗(yàn)箱來(lái)源:林頻合作伙伴
林頻工程師在設(shè)計(jì)熱老化試驗(yàn)箱的產(chǎn)品時(shí),為了讓試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)是更加方便并且也能夠進(jìn)行循環(huán)試驗(yàn),林頻小編現(xiàn)在為你分析一下造成熱老化試驗(yàn)箱試驗(yàn)循環(huán)失敗原因有哪些,如下:
1、熱老化試驗(yàn)箱中的溫度循環(huán)系統(tǒng)參數(shù):其中重要的關(guān)鍵參數(shù)有已下六種:
?。?)限制溫度;
(2)低限溫度;
(3)溫度轉(zhuǎn)變速度;
?。?)限制溫度隔熱保溫時(shí)間;
?。?)低限溫度隔熱保溫時(shí)間;
?。?)循環(huán)系統(tǒng)頻次。
2、溫度循環(huán)系統(tǒng)地應(yīng)力特點(diǎn)分析:熱老化試驗(yàn)箱在溫度循環(huán)系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)中,熱老化試驗(yàn)箱里的氣旋勻稱(chēng)度可能會(huì)危害商品的溫度轉(zhuǎn)變速度,所以是一個(gè)很重要的參數(shù)。進(jìn)行試驗(yàn)時(shí),工作人員需要保證樣品和熱老化試驗(yàn)箱箱內(nèi)壁之間有一定的空隙,讓氣旋能夠在樣品與樣品間以及樣品和箱壁之前能夠自由循環(huán)流動(dòng)。
3、熱老化試驗(yàn)箱的原理及光敏電阻器:熱老化試驗(yàn)箱的溫度循環(huán)系統(tǒng)會(huì)導(dǎo)致不同商品的膨脹系數(shù)不同,導(dǎo)致脫離、裂開(kāi)、其光敏電阻器如漆料涂敷層等。
4,溫度循環(huán)系統(tǒng)使鏍絲聯(lián)接或鉚合不牢的連接頭松弛,其光敏電阻器如鏍絲、鉚合構(gòu)件等;
5,溫度循環(huán)系統(tǒng)使機(jī)械設(shè)備支撐力不夠的壓配連接頭松弛;熱老化試驗(yàn)箱溫度循環(huán)系統(tǒng)使材料差的纖焊回路電阻增加或引起引路,其光敏電阻器如電阻器元器件等;
6,溫度循環(huán)系統(tǒng)使接觸點(diǎn)腐蝕和環(huán)境污染,其光敏電阻器如合金制品等。